Hamamatsu 膜厚仪

❤ 收藏

所属分类：其他应用 >> 半导体

关键词：薄膜、厚度检测、镜片、镀膜

电话：19800239780 (微信同步)

邮箱：sales@topphotonics.cn

微信：

市场价：￥0.00

价格：￥0.00

会员价格：

普通会员：￥0.00

VIP：￥0.00

重量：0.00KG

商品描述

所属分类：其他应用 >> 半导体

关键词：薄膜、厚度检测、镜片、镀膜

电话：19800239780 (微信同步)

邮箱：sales@topphotonics.cn

微信：

HAMAMATSU膜厚测量系统，采用激光干涉测量和光谱干涉测量的非接触式高精度厚度测量系统。可测量范围从10nm到2900μm，对离焦和角度无关，聚焦测量稳定性高，角度漂移稳定性高。可广泛用于薄膜、触摸平板、平板显示、半导体等加工过程厚度测量。

联系我们

产品信息

当前所在位置：

点击扫描添加

19800239780

sales@topphotonics.cn

010-64933683

关注公众号

关注北京拓普光研服务号

市场新闻

关注拓普光研订阅号

招贤纳士